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無損檢測 工業(yè)X射線系統焦點特性 第4部分:邊緣方法

標 準 號: GB/T 25758.4-2010
替代情況:
發(fā)布單位: 中華人民共和國國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會
起草單位: 上海泰司檢測科技有限公司、上海英華無損檢測技術有限公司、上海材料研究所等
發(fā)布日期: 2010-12-23
實施日期: 2011-10-01
點 擊 數:
更新日期: 2012年07月06日
內容摘要

      GB/T25758的本部分規(guī)定了采用清晰邊緣的射線照相底片,來校驗管電壓最高至500kV 的工業(yè)X 射線系統的大于0.5mm 焦點尺寸的方法。 
      X 射線圖像的像質和分辨力很大程度上取決于焦點的特性。焦點成像質量基于目標平面的二維強度分布。 
      邊緣方法對于在現場條件下校驗焦點是特別有效,以發(fā)現焦點的變化。本方法不能用于焦點尺寸的絕對測量。焦點尺寸的絕對測量方法見附錄A。

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