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電子元器件 半導(dǎo)體器件長(zhǎng)期貯存 第2部分：退化機(jī)理

標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào)： GB/T 42706.2-2023
替代情況：
發(fā)布單位： 國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局 國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
起草單位： 北京賽迪君信電子產(chǎn)品檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室有限公司、綿陽(yáng)邁可微檢測(cè)技術(shù)有限公司、武漢格物芯科技有限公司等
發(fā)布日期： 2023-05-23
實(shí)施日期： 2023-09-01
點(diǎn) 擊 數(shù)：
更新日期： 2023年10月27日
內(nèi)容摘要

本文件描述了電子元器件在實(shí)際貯存條件下隨時(shí)間推移的退化機(jī)理和退化方式，以及評(píng)估一般退化機(jī)理的試驗(yàn)方法。
通常本文件與IEC 62435-1一起使用，用于預(yù)計(jì)貯存時(shí)間超過12個(gè)月的長(zhǎng)期貯存器件。
特定類型電子元器件的退化機(jī)理在IEC 62435-5～I(xiàn)EC 62435-9中加以規(guī)定。

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