本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了測(cè)量封裝引線電阻的方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于針柵陣列封裝（PGA）引線電阻的測(cè)試。該測(cè)試技術(shù)也適用于其他微電子封裝如無引線片式載體（LCC）、四邊引線扁平封裝（QEP）和陶瓷雙列封裝（CDIP）等引線電阻的測(cè)試。