本部分規(guī)定了沿光纖縱軸向定量地機械剝?nèi)ケＷo涂覆層所需的力的試驗方法，確立了測量的統(tǒng)一試驗程序和技術(shù)要求。
本部分適用于標稱包層直徑為125μm且標稱外涂覆層（包含緊包緩沖層）直徑為的200μm～900μm 的A1類、A2類、A3類、B類、C類和D類光纖的涂覆層可剝性測量。其它標稱包層直徑的光纖可參考本部分進行測量。