本部分代替ＧＢ／Ｔ１５９７２．２—１９９８《光纖總規(guī)范　第２部分：尺寸參數(shù)試驗(yàn)方法》的第５章、第６章和第８章。本部分為第一次修訂，它與ＧＢ／Ｔ１５９７２．２×其他部分一起代替ＧＢ／Ｔ１５９７２．２—１９９８ 。本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了測(cè)量未涂覆光纖幾何參數(shù)的試驗(yàn)方法，確立了測(cè)量的統(tǒng)一試驗(yàn)程序和技術(shù)要求。 本部分適用于對(duì)Ａ 類多模光纖和Ｂ類單模光纖的測(cè)量和成品光纖光纜的商業(yè)性檢驗(yàn)。 本部分與ＧＢ／Ｔ１５９７２．２—１９９８第５章、第６章和第８章相比主要變化如下：
———?jiǎng)h除了“折射率剖面法”的提法，將其包括的試驗(yàn)方法直接作為本部分的兩種試驗(yàn)方法：方法Ａ：折射近場(chǎng)法，方法Ｂ：橫向干涉法（１９９８年版的第５章；本版的附錄Ａ、附錄Ｂ）；
———修改了折射近場(chǎng)法對(duì)單模光纖聚焦光斑尺寸要求，光斑尺寸改為小于１．５μｍ（１９９８年版的第５章；本版的附錄Ａ 中Ａ．２．２）；
———規(guī)定了光纖幾何參數(shù)的基準(zhǔn)試驗(yàn)方法（見本版的第４章）；
———對(duì)每一種試驗(yàn)方法的特定要求分別用附錄的形式給出（１９９８年版的第５章、第６章、第８章；本版的附錄Ａ、附錄Ｂ、附錄Ｃ 和附錄Ｄ）。