本標準規(guī)定了非本征半導體材料導電類型的測試方法。
本標準適用于硅、鍺非本征半導體材料導電類型的測試，其他非本征半導體材料可參照本標準測試。本標準方法能保證對均勻的同一導電類型的材料測得可靠結果；對于導電類型不均勻的材料，可在其表面上測出不同導電類型區(qū)域。
本標準不適用于分層結構材料（如外延片）導電類型的測試。