《半導(dǎo)體器件　集成電路》的本部分適用于作為目錄內(nèi)電路或定制電路而制造的、其質(zhì)量是以鑒定批準(zhǔn)為基礎(chǔ)評定的膜集成電路和混合膜集成電路。
本部分的目的是為額定值和特性提供優(yōu)先值，從總規(guī)范中選擇合適的試驗和測量方法，并且給出根據(jù)本部分制定的膜集成電路和混合膜集成電路詳細(xì)規(guī)范使用的通用性能要求。
優(yōu)先值的概念直接應(yīng)用于目錄內(nèi)電路，但是不必應(yīng)用于定制電路。
參照本部分制定的詳細(xì)規(guī)范所規(guī)定的試驗嚴(yán)酷等級和要求可等于或高于分規(guī)范的性能水平，不準(zhǔn)許有更低的性能水平。
同本部分相聯(lián)系的有一個或多個空白詳細(xì)規(guī)范，每個空白詳細(xì)規(guī)范均給以編號。按照2.3規(guī)定填寫空白詳細(xì)規(guī)范，即構(gòu)成一個詳細(xì)規(guī)范。按IECQ體系的規(guī)定，該類詳細(xì)規(guī)范可用于膜集成電路和混合膜集成電路鑒定批準(zhǔn)的授與和質(zhì)量一致性檢驗。