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半導(dǎo)體集成電路 快閃存儲(chǔ)器測(cè)試方法

標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào)： GB/T 36477-2018
替代情況：
發(fā)布單位： 國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局
起草單位： 中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院等
發(fā)布日期： 2018-06-07
實(shí)施日期： 2019-01-01
點(diǎn) 擊 數(shù)：
更新日期： 2018年09月04日
內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路快閃存儲(chǔ)器電參數(shù)、時(shí)間參數(shù)和儲(chǔ)存單元功能測(cè)試的基本方法。

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