本標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法適用于具有一體化結(jié)構(gòu)，呈圓、扁平或方形結(jié)構(gòu)的單芯或多芯銀和/或銀合金包套Bi-2212與Bi-2223氧化物超導(dǎo)體短直樣品直流臨界電流的測(cè)量。
本標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法適用于臨界電流小于500 A、n值大于5的超導(dǎo)體。測(cè)量可在有或無(wú)外加磁場(chǎng)的條件下進(jìn)行。在磁場(chǎng)環(huán)境中測(cè)試時(shí)，磁場(chǎng)應(yīng)垂直于樣品的長(zhǎng)度方向。在帶狀樣品的測(cè)試中，磁場(chǎng)可垂直或平行于超導(dǎo)體較寬的一面（如果是方形，任何一面均可）。測(cè)試過(guò)程中，被測(cè)樣品浸泡在液氮或液氦中。本標(biāo)準(zhǔn)還給出了在通常測(cè)試中本實(shí)驗(yàn)方法所允許的偏差以及其他具體限定。