GB/T 5170的本部分規(guī)定了環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備（以下簡稱“設(shè)備”）檢驗(yàn)所用術(shù)語和定義、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)用儀器及要求、檢驗(yàn)周期、檢驗(yàn)負(fù)載、外觀和安全、檢驗(yàn)記錄表、檢驗(yàn)結(jié)果處理等。?
本部分適用于電工電子產(chǎn)品進(jìn)行環(huán)境試驗(yàn)所用設(shè)備的檢驗(yàn)，其他產(chǎn)品進(jìn)行環(huán)境試驗(yàn)所用設(shè)備的檢驗(yàn)亦可參照使用。