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納米技術(shù) 納米顆粒尺寸測量 原子力顯微術(shù)

標(biāo) 準(zhǔn) 號： GB/T 33714-2017
替代情況：
發(fā)布單位： 中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
起草單位： 國家納米科學(xué)中心、納米技術(shù)及應(yīng)用國家工程研究中心、北京粉體技術(shù)協(xié)會(huì)
發(fā)布日期： 2017-05-12
實(shí)施日期： 2017-12-01
點(diǎn) 擊 數(shù)：
更新日期： 2018年05月28日
內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用原子力顯微術(shù)(Atomic force microscopy，簡稱AFM)測量納米顆粒高度來表征納米顆粒尺寸的方法。?本標(biāo)準(zhǔn)適用于分散在平整襯底表面上的納米顆粒測量。

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