本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用于表面元素和化學(xué)態(tài)分析的俄歇電子能譜的動(dòng)能標(biāo)校準(zhǔn)方法。并且還規(guī)定了校準(zhǔn)日程安排,用于在中間某一能量值測(cè)試動(dòng)能標(biāo)線性、在高低動(dòng)能區(qū)各取一點(diǎn)確認(rèn)標(biāo)尺校準(zhǔn)的不確定度、校正標(biāo)尺小漂移以及規(guī)定在95%置信度時(shí)該動(dòng)能標(biāo)校準(zhǔn)的擴(kuò)展不確定度(這個(gè)不確定度包括實(shí)驗(yàn)室之間研究中觀察到的各種現(xiàn)象,但不涵蓋所有可能的缺陷)。
本標(biāo)準(zhǔn)僅適用于配備濺射清潔離子槍的儀器。不適用于以下情況的儀器:動(dòng)能標(biāo)尺的誤差隨能量明顯非線性變化;工作于譜儀的相對(duì)分辨率低于0.2%的固定ΔE/E 模式或固定ΔE 為1.5eV 模式時(shí),要求容差極限為±0.05eV 或更小。也不適用于電子槍不能在5keV~10keV 能量范圍操作的儀器。