2.3端接頭絕緣的制作工藝
　　
　　再一個(gè)影響端接頭絕緣的因素是端接頭絕緣制作工藝過程。下端部接頭絕緣(絕緣盒式)制作工藝是在絕緣盒中倒一定量的絕緣填料，慢慢地套在接頭上。制作時(shí)，首先要放入適量的絕緣填料，多了會(huì)溢出，少了裝不滿，再往絕緣盒中倒絕緣填料就比較麻煩；其次，套進(jìn)接頭的過程不能太快，一方面是由于太快了，絕緣填料還沒來得及滲入絕緣盒內(nèi)每一部位就溢出絕緣盒，另一方面是會(huì)在接頭絕緣中留有氣泡，嚴(yán)重影響絕緣性能。上端部接頭絕緣(絕緣盒式)的制作就比較復(fù)雜，首先是絕緣盒底部封口問題。有兩種制作方法，一種是用環(huán)氧泥封，等環(huán)氧泥固化后與絕緣盒成一體，作為機(jī)組絕緣的一部分；另一種是用石棉泥鋪在接頭底部，把絕緣盒套上，往絕緣盒中灌注絕緣填料，待絕緣填料固化后，將石棉泥去掉。第一種方法的好處是，環(huán)氧泥粘在線棒絕緣上，加強(qiáng)了端接頭的絕緣；第二種方法制作的接頭絕緣其外觀較好，絕緣盒口較平整。在制作中兩種方法都可采用。至于灌注絕緣填料亦要有一定的步驟，不能一次灌滿，應(yīng)在不完全固化時(shí)分3次灌注，以免絕緣盒中的氣泡沒全排出來，影響絕緣水平，另外在第一次灌注時(shí)也可將絕緣盒底部進(jìn)一步密封，防止絕緣填料注滿后從絕緣盒底部滲漏。
　　
　　2.4機(jī)械振動(dòng)
　　
　　發(fā)電機(jī)的定子端接頭都伸出到鐵心外面。運(yùn)行中受到外界和自身(機(jī)械和電磁)的力的影響而不停地產(chǎn)生振動(dòng)，特別是大型發(fā)電機(jī)，其電壓等級(jí)較高，且端接頭伸出鐵心較長(zhǎng)，機(jī)組定子分瓣數(shù)也較多，影響就更大。如青溪水電廠1、2、3號(hào)3臺(tái)機(jī)組，在測(cè)量絕緣盒泄漏電流時(shí)，發(fā)現(xiàn)在分瓣處，特別是跨兩瓣的接頭絕緣盒較容易擊穿或泄漏電流過大，也就證明該處不僅有現(xiàn)場(chǎng)下線工藝的原因，還有絕緣受機(jī)械振動(dòng)影響最大的原因。所以，在分瓣處的接頭制作工藝上要特別嚴(yán)格、仔細(xì)，在試驗(yàn)檢查過程中，也ψ魑氐憬屑觳欏＊?br>綜上所述，無論是哪方面的因素，對(duì)端接頭絕緣的影響都很大，因而提高制作人員和檢修人員的制作水平是防止端接頭絕緣事故的重要環(huán)節(jié)。

　　3　端接頭絕緣和接觸電阻的試驗(yàn)方法
　　
　　在《電氣設(shè)備預(yù)防性試驗(yàn)規(guī)程》中沒有明確要求單獨(dú)檢查水輪發(fā)電機(jī)組定子繞組端接頭絕緣，為了預(yù)防事故的發(fā)生，根據(jù)機(jī)組現(xiàn)有的絕緣薄弱點(diǎn)，如青溪水電廠4臺(tái)機(jī)組，借鑒汽輪發(fā)電機(jī)定子繞組端部手包絕緣的試驗(yàn)方法，用如下試驗(yàn)方法較為有效。
　　
　　3.1端接頭絕緣盒的泄漏電流測(cè)量
　　
　　當(dāng)發(fā)電機(jī)上擋風(fēng)板和轉(zhuǎn)子吊出后，在定子繞組端接頭絕緣盒周圍用手工包一層錫鉑紙，為使錫鉑紙貼緊絕緣盒，在錫鉑紙周圍扎一條橡皮筋，然后用絕緣棒把導(dǎo)線及已包好錫鉑紙的絕緣盒引至微安表，用直流高壓發(fā)生器對(duì)定子繞組(定子繞組三相短接起來)加直流13.8kV電壓，讀取泄漏電流，塞午勾加至13.8kV即放電擊穿、或相比之下泄漏電流較大，即視為不合格絕緣盒，需處理。一般不合格的絕緣盒其放電電壓在12kV左右或泄漏電流在30～50μA之間，有個(gè)別絕緣盒泄漏電流甚至大于100μA。由于定子繞組絕緣盒數(shù)量很多，為加快試驗(yàn)速度，試驗(yàn)時(shí)可先把絕緣盒用錫鉑紙逐一包好20～30個(gè)，然后逐一試驗(yàn)。
　　
　　
　　3.2端接頭接觸電阻的測(cè)量
　　端接頭接觸電阻的測(cè)量方法主要有幾種：大電流壓降法、渦流探測(cè)法、電橋法以及用紅外熱像測(cè)溫儀測(cè)量。紅外熱像測(cè)溫儀測(cè)量是一種新方法：在定子繞組通一大電流，使定子接頭產(chǎn)生溫升，當(dāng)一定時(shí)間后，定子接頭溫升達(dá)到穩(wěn)定，此時(shí)用紅外熱像儀測(cè)量每一定子接頭的溫度，然后進(jìn)行比較判斷，它的優(yōu)點(diǎn)是方便且不須刺破被測(cè)接頭絕緣。電橋法是用雙臂電橋測(cè)量。由于電橋法和大電流壓降法都須損傷接頭絕緣，而大電流壓降法一般比電橋法更準(zhǔn)確、靈敏，所以在這種情況下一般不采用電橋法而采用大電流壓降法測(cè)量。大電流壓降法是在繞組中通以不大于20%In的電流，測(cè)量接頭上所產(chǎn)生的壓降，根據(jù)R＝U/I計(jì)算出接頭接觸電阻值，這種方法一般是在端接頭焊完還未包絕緣的情況下使用，準(zhǔn)確度比較高，但受測(cè)點(diǎn)位置和探針接觸的影響，測(cè)量結(jié)果有一定的分散性。良好的端接頭接觸電阻一般只有幾微歐，而且絕大部分焊接接頭的接觸電阻值小于同長(zhǎng)度線圈導(dǎo)體的直流電阻值。不良端接頭的接觸電阻不但會(huì)超過同長(zhǎng)度線圈導(dǎo)體的直流電阻值，而且會(huì)比良好接頭的接觸電阻大許多倍。渦流探測(cè)法是根據(jù)靜止的整塊導(dǎo)體在交變磁場(chǎng)中感應(yīng)產(chǎn)生渦流的原理制成的(如圖3)，如果接頭結(jié)構(gòu)不嚴(yán)實(shí)，接觸不良，焊接物未灌滿，則渦流所通過路徑的電阻大，
　　
　　量，此種方法只適用于整塊接頭型式的接頭測(cè)量，這種方法最大的優(yōu)點(diǎn)是方便且不須刺破被測(cè)接頭的絕緣，但在測(cè)量時(shí)探頭所放的位置、接頭形狀及周圍環(huán)境都有很大的關(guān)系，使得探測(cè)結(jié)果分散性較大，所以現(xiàn)在一般不用此方法測(cè)量。在以上4種測(cè)量方法中一般當(dāng)接頭未包絕緣時(shí)采用大電流壓降法，而接頭包絕緣后則逐步傾向于采用紅外熱像儀測(cè)量。