電荷耦合器件質(zhì)子位移損傷效應(yīng)模擬試驗(yàn)方法
標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào): T/CNS 81-2022
發(fā)布單位: 中國(guó)核學(xué)會(huì)
起草單位: 中國(guó)科學(xué)院新疆理化技術(shù)研究所,中國(guó)科學(xué)院微小衛(wèi)星創(chuàng)新研究院,中國(guó)航天科 技集團(tuán)公司第五研究院物資部
發(fā)布日期: 2022-12-16
實(shí)施日期: 2023-04-01