本文件規(guī)定了碳化硅單晶中硼、鋁、氮雜質含量的二次離子質譜測試方法。
本文件適用于碳化硅單晶中硼、鋁、氮雜質含量的定量分析，測定范圍為硼含量不小于5×1013 cm-3、鋁含量不小于5×1013 cm-3、氮含量不小于5×1015 cm-3，元素濃度（原子個數(shù)百分比）不大于1%。