本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了使用渦流測(cè)厚儀無(wú)損測(cè)量非磁性基體金屬上非導(dǎo)電覆蓋層厚度的方法。本方法適用于測(cè)量大多數(shù)陽(yáng)極氧化膜的厚度；但它不適用于一切的轉(zhuǎn)化膜，有些轉(zhuǎn)化膜因?yàn)樘《荒苡眠@種方法測(cè)量。