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藍(lán)寶石單晶位錯密度測量方法

標(biāo) 準(zhǔn) 號： GB/T 33763-2017
替代情況：
發(fā)布單位： 中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局 中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
起草單位： 江蘇協(xié)鑫軟控設(shè)備科技發(fā)展有限公司、中國科學(xué)院上海光學(xué)精密機(jī)械研究所、深圳市中安測標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)有限公司
發(fā)布日期： 2017-05-31
實施日期： 2017-12-01
點 擊 數(shù)：
更新日期： 2017年09月24日
內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了藍(lán)寶石單晶位錯密度的測量方法。?
本標(biāo)準(zhǔn)適用于拋光加工后位錯密度為0個/cm2～100 000個/cm2的藍(lán)寶石單晶位錯密度的測量，檢測面為{0001}、{1120}、{1012}、{1010}面。

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