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工業(yè)硅化學(xué)分析方法 第5部分：雜質(zhì)元素含量的測(cè)定 X射線熒光光譜法

標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào)： GB/T 14849.5-2014
發(fā)布單位： 中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
起草單位： 昆明冶金研究院、中國(guó)鋁業(yè)股份有限公司山東分公司、云南永昌硅業(yè)股份有限公司
發(fā)布日期： 2014-12-05
實(shí)施日期： 2015-05-01
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更新日期： 2015年09月28日
內(nèi)容摘要

GB/T14849的本部分規(guī)定了工業(yè)硅中鐵、鋁、鈣、錳、鎳、鈦、銅、磷、鎂、鉻、釩、鈷含量的測(cè)定方法。
本部分適用于工業(yè)硅中鐵、鋁、鈣、錳、鎳、鈦、銅、磷、鎂、鉻、釩、鈷含量的測(cè)定,測(cè)定范圍見表1。

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