本文件規(guī)定了計算機(jī)射線照相系統(tǒng)的基本性能參數(shù)，以期可經(jīng)濟(jì)、重復(fù)的獲得符合要求的測試結(jié)果。該技術(shù)以檢測基本理論和試驗測量為基礎(chǔ)。本文件規(guī)定了計算機(jī)射線照相（CR）系統(tǒng)的性能以及系統(tǒng)掃描儀和存儲磷光成像板（IP）的相應(yīng)性能參數(shù)測量。本文件確立了計算機(jī)射線照相系統(tǒng)與工業(yè)射線照相專用金屬屏的分類，以確保圖像的質(zhì)量（圖像質(zhì)量受掃描儀-IP系統(tǒng)的影響）符合ISO 16371-2的要求。本文件與ISO 11699-1規(guī)定的膠片射線照相技術(shù)的要求相關(guān)。
本文件界定了不同等級系統(tǒng)的測試方法，規(guī)定了較復(fù)雜的精確確定系統(tǒng)性能參數(shù)的測量試驗。本文件適用于對不同供應(yīng)商的系統(tǒng)進(jìn)行分類，使用戶獲得設(shè)備橫向可比的數(shù)據(jù)。這些測試被指定為制造商測試，其中一些測試需要特殊的器具，這些器具在用戶實驗室通常不能獲得。因此，本文件還規(guī)定了相對簡單的用戶測試，用于快速測試CR系統(tǒng)的質(zhì)量和長期穩(wěn)定性。
影響CR圖像質(zhì)量的因素包括幾何不清晰度、信噪比(SNR）、散射比和對比度靈敏度。其他因素（例如掃描參數(shù)）影響激光掃描儀精確讀取已曝光IP上的圖像。
本文件描述了最精準(zhǔn)地確定系統(tǒng)質(zhì)量要素的制造商測試方法。為確保使用質(zhì)量，本文件描述了對實際用戶推薦使用的個別測試方法。這些測試方可單獨進(jìn)行，也可使用CR模塊測試（見附錄B）。CR模塊包含許多基本的質(zhì)量評估方法和正確的CR系統(tǒng)功能驗證，包括掃描儀讀取已曝光IP信息和正確擦除IP殘留信息供后續(xù)使用。
本文件確立的CR系統(tǒng)分類不涉及任何指定制造商的成像板。CR系統(tǒng)分類由使用的特定成像板和曝光條件（明確的全部曝光條件）、掃描儀類型和掃描參數(shù)綜合確定。