本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了使用磁性測(cè)厚儀無(wú)損測(cè)量磁性基體金屬上非磁性覆蓋層（包括釉瓷和搪瓷層）厚度的方法。本方法僅適用于在適當(dāng)平整的試樣上的測(cè)量。非磁性基體上的鎳覆蓋厚度測(cè)量?jī)?yōu)先采用GB/T 13744規(guī)定的方法。