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靜電復(fù)印光導(dǎo)體表面缺陷測量方法

標(biāo) 準(zhǔn) 號: JB/T 8268-2015
替代情況:
發(fā)布單位: 工業(yè)和信息化部
起草單位: 天津復(fù)印技術(shù)研究所等
發(fā)布日期: 2015-04-30
實施日期: 2015-10-01
點 擊 數(shù):
更新日期: 2019年02月10日
內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了靜電復(fù)印光導(dǎo)體表面缺陷的測量條件、測量方法及測量報告的要求。本標(biāo)準(zhǔn)適用于靜電復(fù)?。ù蛴?、傳真、多功能)設(shè)備用的光導(dǎo)體的外觀質(zhì)量及背景印跡的測量。

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