本文件描述了隨時間的推移，偏置條件和溫度對固態(tài)器件影響的試驗(yàn)方法。該試驗(yàn)以加速壽命模式模擬器件工作，主要用于器件的鑒定和可靠性檢驗(yàn)。短期的高溫偏置壽命通常稱之為老煉，可用于篩選試驗(yàn)中剔除早期失效產(chǎn)品。本文件未規(guī)定老煉的詳細(xì)要求和應(yīng)用。