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半導(dǎo)體紅外發(fā)光二極管測試方法

標(biāo) 準(zhǔn) 號: SJ 2658-1986
替代情況:
發(fā)布單位: 電子工業(yè)部
起草單位: 電子工業(yè)部標(biāo)準(zhǔn)研究所
發(fā)布日期: 1986-01-24
實施日期: 1986-10-01
點 擊 數(shù):
更新日期: 2022年03月06日
內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)適用于半導(dǎo)體紅外發(fā)光二極管光電參數(shù)的測試,其光電參數(shù)的測試按相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)和技術(shù)條件的規(guī)定進行。


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