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半導(dǎo)體光電二極管和光電晶體管測(cè)試方法

標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào)： SJ/T 2214-2015
替代情況：
發(fā)布單位： 中華人民共和國工業(yè)和信息化部
起草單位： 電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究院
發(fā)布日期： 2015-04-30
實(shí)施日期： 2015-10-01
點(diǎn) 擊 數(shù)：
更新日期： 2021年03月30日
內(nèi)容摘要

標(biāo)準(zhǔn)的主要內(nèi)容包括半導(dǎo)體光敏管的正向壓降暗電流等參數(shù)的術(shù)語和定義測(cè)試原理測(cè)試步驟測(cè)試條件。

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