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環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Q:密封

標(biāo) 準(zhǔn) 號: GB/T 2423.23-2013
發(fā)布單位: 中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
起草單位: 工業(yè)和信息化部電子第五研究所、北京航天航空大學(xué)、廣州大學(xué)、中國電器科學(xué)研究院有限公司
發(fā)布日期: 2013-11-12
實(shí)施日期: 2014-03-07
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更新日期: 2020年12月22日
內(nèi)容摘要

GB/T2423的本部分規(guī)定了各種密封性能試驗(yàn)方法。試驗(yàn)Qa、Qc是粗檢,觀察從漏隙中冒出的氣泡;試驗(yàn)Qd是在加溫條件下觀察液體的滲漏;試驗(yàn)Qy是在降壓的條件下使氣體通過漏隙進(jìn)入試驗(yàn)箱,然后測量試驗(yàn)箱的性能變化;試驗(yàn)Qk、Qm 是用示蹤氣體檢測細(xì)漏;試驗(yàn)Qf、Ql是在加壓條件下使液體通過漏隙進(jìn)入其中,然后測量其性能變化。
本部分適用于檢測各種電工電子產(chǎn)品的密封性能,也適用于其他密封零部件的密封性檢測。

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