本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了在數(shù)字微電子器件封裝引出端之間，測試寬帶數(shù)字信號(hào)和噪聲交叉耦合水平的方法。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于數(shù)字微電子器件封裝。當(dāng)驅(qū)動(dòng)和負(fù)載阻抗已知時(shí)，適用于多種邏輯系列產(chǎn)品。