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太陽能電池用硅片微裂紋缺陷的測試方法

標 準 號: SJ/T 11632-2016
替代情況:
發(fā)布單位: 中華人民共和國工業(yè)和信息化部
起草單位: 電子工業(yè)標準化研究院等
發(fā)布日期: 2016-04-05
實施日期: 2016-09-01
點 擊 數(shù):
更新日期: 2019年01月19日
內(nèi)容摘要

本標準規(guī)定了太陽能電池用硅片微裂紋缺陷的測試方法,主要內(nèi)容包括規(guī)范性引用文件、術(shù)語和定義、方法原理、干擾因素、儀器設(shè)備、試樣要求、測試環(huán)境、測試程序、精密度和試驗報告等。

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