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半導體集成電路 電平轉換器測試方法

標 準 號: GB/T 35006-2018
替代情況:
發(fā)布單位: 中華人民共和國國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局 國家標準化管理委員會
起草單位: 工業(yè)和信息化部電子第五研究所等
發(fā)布日期: 2018-03-15
實施日期: 2018-08-01
點 擊 數:
更新日期: 2018年05月12日
內容摘要

本標準規(guī)定了半導體集成電路電平轉換器(以下稱為器件)功能、靜態(tài)參數和動態(tài)參數的測試方法。
本標準適用于半導體集成電路電平轉換器功能、靜態(tài)參數和動態(tài)參數的測試。

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