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光學(xué)功能薄膜 黃變的測(cè)量方法

標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào): HG/T 5659-2019
替代情況:
發(fā)布單位: 中華人民共和國(guó)工業(yè)和信息化部
起草單位: 中國(guó)兵器工業(yè)集團(tuán)第五三研究所、合肥樂(lè)凱科技產(chǎn)業(yè)有限公司
發(fā)布日期: 2019-12-24
實(shí)施日期: 2020-07-01
點(diǎn) 擊 數(shù):
更新日期: 2022年08月01日
內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了光學(xué)功能薄膜在模擬的太陽(yáng)光或紫外光照射下的黃變測(cè)量方法。
本標(biāo)準(zhǔn)的內(nèi)容包括:范圍、規(guī)范性引用文件、術(shù)語(yǔ)和定義、測(cè)量原理、測(cè)量設(shè)備及方法、試樣、環(huán)境條件、測(cè)量步驟、試驗(yàn)結(jié)果、測(cè)試報(bào)告。

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