本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了使用原子力顯微術(shù)（AFM)測(cè)量納米薄膜厚度的原理、測(cè)試條件、設(shè)備、樣品、測(cè)試步驟和數(shù)據(jù)處理。本標(biāo)準(zhǔn)適用于表面均勻、平整的納米范圍厚度的無(wú)機(jī)材料薄膜。較厚的和一些有機(jī)薄膜的膜厚測(cè)定也可參照?qǐng)?zhí)行。