本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了采用電子顯微鏡高角環(huán)形暗場(chǎng)成像技術(shù)對(duì)貴金屬納米顆粒成像的方法。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于單一貴金屬納米顆粒和復(fù)合材料中貴金屬納米顆粒的成像。