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光學(xué)功能薄膜 近紅外光譜透過(guò)率的測(cè)量方法

標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào): HG/T 5077-2016
替代情況:
發(fā)布單位: 中華人民共和國(guó)工業(yè)和信息化部
起草單位: 中國(guó)樂(lè)凱集團(tuán)有限公司
發(fā)布日期: 2016-10-22
實(shí)施日期: 2017-04-01
點(diǎn) 擊 數(shù):
更新日期: 2017年06月20日
內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了光學(xué)功能薄膜近紅外區(qū)(780 nm~2500 nm)光譜透過(guò)率的測(cè)量方法。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于光學(xué)功能薄膜近紅外光譜透過(guò)率的測(cè)量,也適用于其他透明或半透明物體近紅外光譜透過(guò)率的測(cè)量。

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