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納米薄膜接觸角測(cè)量方法

標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào): GB/T 30447-2013
替代情況:
發(fā)布單位: 中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
起草單位: 中國(guó)建筑材料科學(xué)研究總院、中國(guó)建材檢驗(yàn)認(rèn)證集團(tuán)股份有限公司、宣城晶瑞新材料有限公司
發(fā)布日期: 2013-12-31
實(shí)施日期: 2014-10-01
點(diǎn) 擊 數(shù):
更新日期: 2017年01月21日
內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了納米薄膜接觸角測(cè)量中涉及的術(shù)語、原理、試驗(yàn)設(shè)備、環(huán)境、樣品制備、分析步驟、結(jié)果計(jì)算和試驗(yàn)報(bào)告等。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于襯底為表面平整的納米薄膜涂層。

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