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本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了單軸晶光學(xué)晶體折射率測(cè)量方法的環(huán)境要求、測(cè)量原理與方法、檢測(cè)儀器要求、待測(cè)量樣品準(zhǔn)備、測(cè)量步驟、數(shù)據(jù)處理和不確定度評(píng)定。本標(biāo)準(zhǔn)適用于單軸晶光學(xué)晶體的折射率測(cè)量,其他光學(xué)晶體的折射率測(cè)量可參照?qǐng)?zhí)行。