本部分規(guī)定的低溫試驗(yàn)適用非散熱和散熱試驗(yàn)樣品。
本部分代替GB/T 2423.1-2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法
試驗(yàn)A：低溫》，與之相比，主要變化如下：
——?jiǎng)h除了試驗(yàn)Aa：非散熱試驗(yàn)樣品溫度突變的低溫試驗(yàn)；
——?jiǎng)h除了附錄A、附錄B、附錄C、附錄D、附錄E；
——增加了試驗(yàn)Ae：散熱試驗(yàn)樣品溫度漸變的低溫試驗(yàn)——試驗(yàn)樣品在整個(gè)試驗(yàn)過(guò)程通電。
